Версия для слабовидящих English version О Роспатенте Деятельность Госзакупки Госслужба Нормативно-правовые акты Пресс-центр Прием обращений Ссылки
  Главная - Пресс-центр - Архив новостей - Экспертиза промышленных образцов — тема второго дня круглого стола Роспатента и OHIM

Экспертиза промышленных образцов — тема второго дня круглого стола Роспатента и OHIM

 

Сегодня — 17 ноября 2015 года — на круглом столе специалисты Федеральной службы по интеллектуальной собственности (Роспатента), Федерального института промышленной собственности (ФИПС) и Ведомства по гармонизации на внутреннем рынке (OHIM) обсудили работу над российским руководством по экспертизе промышленных образцов.

ohim.JPG

Как и на заседании, посвященном разработке российского руководства по экспертизе товарных знаков, большое внимание было уделено примерам из практики OHIM. Представители Ведомства и Роспатента озвучили ряд взаимных комментариев к проекту части российского руководства по экспертизе промышленных образцов по существу, который разработан при активном участии ОHIM. Стороны наметили дальнейшие шаги по доработке остальных частей российского руководства по промышленным образцам и его последующему практическому применению.

Обсуждения состоялись в рамках реализации совместного проекта «Модернизация системы интеллектуальной собственности в Российской Федерации».



Дата последнего обновления: 18.10.2016 16:24
  Главная - Пресс-центр - Архив новостей - Экспертиза промышленных образцов — тема второго дня круглого стола Роспатента и OHIM
Photo of the building

Подведомственные учреждения
ФИПС РГАИС ФАПРИД