Версия для слабовидящих English version О Роспатенте Деятельность Госзакупки Госслужба Нормативно-правовые акты Пресс-центр Прием обращений Ссылки
  Главная - Пресс-центр - Архив новостей - Пресс-релиз о рабочем визите экспертов Японского патентного ведомства

Пресс-релиз о рабочем визите экспертов Японского патентного ведомства.

 

С 20 января по 2 февраля 2013 г. в рамках программы обмена экспертами состоялся рабочий визит экспертов Японского патентного ведомства в Роспатент. Основной целью визита являлось ознакомление со структурой и функциями Роспатента и ФИПС, в частности изучение процедуры экспертизы заявок, работы с поисковой системой PatSearch и автоматизированными системами документооборота.



Представители Японского патентного ведомства высоко оценили работу российских экспертов и выразили большую заинтересованность в дальнейшем сотрудничестве.

В рамках рабочего визита было организовано посещение Российской государственной академии интеллектуальной собственности (РГАИС), а также двухдневная стажировка в Евразийское патентное ведомство.



Управление международного сотрудничества


Дата последнего обновления: 31.07.2013 17:50
  Главная - Пресс-центр - Архив новостей - Пресс-релиз о рабочем визите экспертов Японского патентного ведомства
Photo of the building

Подведомственные учреждения
ФИПС РГАИС ФАПРИД